Особоенности
Технические условия
Опции
JAMP-9500F - это Оже-спектрометр с высокими техническими характеристиками, с полусферическим анализатором для обеспечения высокопроизводительного анализа состояния химических связей в нано и микро областях, оснащенный электронной пушкой с термополевой эмиссией, используемая также в ЭЗМА, создающей высокий, стабильный ток электронного зонда.
Высокоточный эвцентрический моторизованный столик позволяет выполнять ранее невозможный анализ непроводящих образцов. Это, в сочетании с ионной пушкой плавающего типа, делает универсальной для подготовку любых типов образцов, например, металлов и диэлектриков, для получения информации о химическом составе, и другую информацию.

Высокая чувствительность и разрешение детектора Использование анализатора с переменным разрешением по энергии позволяет проводить анализ состояния химических связей в режиме высокого разрешения, а также высокоскоростное картирование в режиме высокой чувствительности.

Термополевая электронная пушка типа Шоттки Электронная пушка позволяет получать изображение с пространственным разрешением до 3 нм, а также осуществлять эффективный анализ состояния химических связей благодаря большому току пучка - до 200 нА. Это стало возможным благодаря использованию технологий изготовления электронной оптики, которые JEOL развивал в течение многих лет в полевых электронных пушках типа Шоттки, используемых в РЭМ и ЭЗМА.

Эвцентрический столик образцов Эвцентрический столик образцов, разработанный специально для аналитического прибора, оснащенного многочисленными оптическими системами, позволяет получать воспроизводимость установки центра образца по высоте с большой точностью. Свободно выбираемый наклон столика до 90 ° делает возможным сложный анализ диэлектриков.

Долговечность Новая концепция дизайна, ориентированного на долговечность, сокращает эксплуатационные расходы, связанные с заменой катода ионной пушки и эмиттера электронной пушки.

Программное обеспечение Разделение перекрывающихся Оже пиков, которые усложняют работу аналитиков, наряду со сложным анализом химических связей решается одним щелчком мыши с помощью функции разделения сигналов. JAMP-9510F позволяет проводить исследование изображения поверхности образца с высоким пространственным разрешением, используя режим вторичных электронов, картирование распределения элементного и химического состава в Оже-электронах и анализируя профиль концентрации вдоль выбранной линии (линейный профиль). К тому же, этот прибор может проводить анализ профиля концентрации по глубине при использовании ионного травления поверхности образца.





*Спецификация прибора может быть изменена без предварительного уведомления.
Опции
  • Прибор имеет дополнительные порты для установки внешних приставок для поддержки разных видов анализов.
  • Большой столик образцов (полноразмерное наблюдение образца Ø95мм) Система парковки образцов.
  • Установка для охлаждения и производства излома образца
  • Система нагрева образца
  • Детектор обратно-рассеянных электронов
  • Энергодисперсионный рентгеновский детектор (ЭДС)
  • Установка дифракции обратно-рассеянных электронов (EBSD)
Made on
Tilda