Главная
Сервис
О нас
Продукты
Трудоустройство
RU
EN
О Компании
Сообщение от Президента
Политика приобретения
Политика конфиденциальности
Контакты
Консультативная поддержка
Обслуживание и ремонт
Каталог
Гид по продукции
JIB-4000 Focused Ion Beam Milling & Imaging System
JIB-4601F MultiBeam System
JPS-9200 Photoelectron Spectrometer
JSM-7800F Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope
JSM-7610F Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope
JEM-ARM200F NEOARM Atomic Resolution Analytical Electron Microscope
JEM-2100Plus Electron Microscope
JEM-1400Flash Electron Microscope
Made on
Tilda